過去3年，超大面積硅漂移檢測儀器CMI200測厚儀系列系列在市場一直占有主導地位。日前牛津儀器發布了該系列的新一代產品，新產品具備更為卓越的分析性能，分辨率可達0.1μm。 
     牛津儀器一直致力于科技創新，運用較新科技成果提供世界一流產品。這一優良傳統不斷促進硅漂移檢測技術的發展。CMI200測厚儀系列新產品的問世，意味著該技術取得前所未有的突破與發展。

     CMI200測厚儀系列新產品性能升級，是檢測面積、速度和分辨率的更佳組合。該產品具有在指定掃描時間內自動平均讀數，且仍能保持高計數率、快速成像、以及優異的檢測分析性能。
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