一、典型干涉系統:
1、斐索干涉儀：
基本特點： ①屬于等厚干涉 ②干涉光束，一個來自標準反射面，一個來自被測面。
條紋分析：注意應用比例關系：
2、邁克爾遜干涉儀：
特點：和垂直時是等傾干涉，否則為等厚干涉。
3、泰曼干涉儀：
特點：在邁克爾遜的一個光路中了被測光學器件。
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和
垂直時是等傾干涉，否則為等厚干涉。
